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首頁 > 行業(yè)應(yīng)用 > 材料 > 高分子 > QCM-D技術(shù)實(shí)時(shí)監(jiān)測不同聚電解質(zhì)多層膜的構(gòu)建


前言
3T QCM-D(qcell/qcell T/qcell μOpto)是耗散型石英晶體微天平,具有設(shè)計(jì)新穎,簡便操作的特點(diǎn),是實(shí)時(shí)無標(biāo)記表界面分析的原位分析手段,已被廣泛應(yīng)用于學(xué)術(shù)研究及工業(yè)應(yīng)用中。3T QCM-D可用于大量已有或新興的應(yīng)用領(lǐng)域,如納米材料性質(zhì)分析、生物膜和細(xì)胞簇分析、高分子自主裝、細(xì)胞反應(yīng)、蛋白質(zhì)與脂質(zhì)膜的結(jié)合、血液研究等。
3T QCM-D應(yīng)用示例——聚電解質(zhì)多層膜形成過程監(jiān)測
通過聚電解質(zhì)陽離子和聚電解質(zhì)陰離子的交替沉積,可實(shí)現(xiàn)聚電解質(zhì)自主裝多層膜的形成。
聚電解質(zhì)多層形成有兩種模式:一種是厚度隨沉積步驟呈線性增加。線性增長模式中形成的多層膜,一般是致密、有層次且大分子不可滲透的;另一種是厚度隨沉積步驟呈指數(shù)增加。指數(shù)增長模式中形成的多層膜大多是類膠體、缺少結(jié)構(gòu)層次且特定的聚電解質(zhì)和蛋白質(zhì)可滲透的。對于這兩種不同的形成模式,可通過QCM-D信號進(jìn)行模式判斷以及厚度測定。該現(xiàn)象可通過兩種不同的典型聚電解質(zhì)多層膜PEI-(PSS/PAH)10和PEI-(PGA/PAH)8來驗(yàn)證。


1. Fig 2 聚電解質(zhì)多層膜構(gòu)建過程示意圖,通過清洗、聚陽離子沉積、清洗、聚陰離子沉積,清洗的連續(xù)步驟,進(jìn)行多個(gè)循環(huán),形成聚電解質(zhì)多層膜。


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結(jié)論